朋丰半导体

Pengfeng semiconductor

专注于消费类电子的芯片开发

品种齐全、价格合理

137-1539-9321

热门关键词: 聚洵半导体 赛芯电子 思远半导体
常见半导体失效分析方法汇总

信息来源于:互联网 发布于:2022-05-08

服务介绍:可用来进行器件外观及失效部位的表面形状,尺寸,结构,缺陷等观察。金相显微镜系统是将传统的光学显微镜与计算机(数码相机)通过光电转换有机的结合在一起,不仅可以在目镜上作显微观察,还能在计算机(数码相机)显示屏幕上观察实时动态图像,电脑型金相显微镜并能将所需要的图片进行编辑、保存和打印。
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服务范围:可供研究单位、冶金、机械制造工厂以及高等工业院校进行金
属学与热处理、金属物理学、炼钢与铸造过程等金相试验研究之用
服务内容:
1.样品外观、形貌检测
2.制备样片的金相显微分析
3.各种缺陷的查找
体视显微镜OM 无损检测:蔡司
服务介绍:体视显微镜,亦称实体显微镜或解剖镜。是一种具有正像立体感的目视仪器,从不同角度观察物体,使双眼引起立体感觉的双目显微镜。对观察体无需加工制作,直接放入镜头下配合照明即可观察,成像是直立的,便于操作和解剖。视场直径大,但观察物要求放
大倍率在200倍以下。
服务范围:电子精密部件装配检修,纺织业的品质控制、文物 、邮票的
辅助鉴别及各种物质表面观察
服务内容:
1.样品外观、形貌检测
2.制备样片的观察分析
3.封装开帽后的检查分析
4.晶体管点焊、检查
X-Ray无损检测:德国依科视朗
服务介绍:X-Ray是利用阴极射线管产生高能量电子与金属靶撞击,在撞击过程中,因电子突然减速,其损失的动能会以X-Ray形式放出。而对于样品无法以外观方式观测的位置,利用X-Ray穿透不同密度物质后其光强度的变化,产生的对比效果可形成影像,即可显示出待测物的内部结构,进而可在不破坏待测物的情况下观察待测物内部有问题的区域。
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服务范围:产品研发,样品试制,失效分析,过程监控和大批量产品观测
服务内容:
1.观测DIP、SOP、QFP、QFN、BGA、Flipchip等不同封装的半导体、电阻、电容等电子元器件以及小型PCB印刷电路板
2.观测器件内部芯片大小、数量、叠die、绑线情况
3.观测芯片crack、点胶不均、断线、搭线、内部气泡等封装缺陷,以及焊锡球冷焊、虚焊等焊接缺陷